HAST可靠性試驗(yàn)機(jī)，高加速壽命試驗(yàn)箱用途：
   高加速老化試驗(yàn)箱是為評估非氣密性固態(tài)器件在潮濕及電偏壓的環(huán)境中的可靠性。這是一種高度加速試驗(yàn)，在非冷凝條件下利用溫度和濕度加速水汽通過外部保護(hù)材料（封裝材料或密封件）或沿著外部保護(hù)材料和金屬導(dǎo)體之間的界面滲透。該試驗(yàn)依據(jù)JEDEC 22標(biāo)準(zhǔn)，此測試用于識別封裝內(nèi)部的故障機(jī)制，具有破壞性。
   HAST高加速老化試驗(yàn)箱主要用于對電工、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、IC芯片、固態(tài)存儲器、DRAM、閃存卡及模塊、元器件、零部件、金屬材料、塑料晶體管外形封裝等產(chǎn)品測試。
HAST可靠性試驗(yàn)機(jī)，高加速壽命試驗(yàn)箱技術(shù)性能：

溫度范圍: 105℃～147℃( 蒸氣溫度 )

濕度范圍: 75~100 % （蒸氣濕度）
濕度控制穩(wěn)定度：±3%RH

使用壓力: 1.2~2.89kg(含1atm)

時間范圍: 0Hr～999 Hr

加壓時間: 0.00 Kg ～1.04 Kg/cm2約45 分
溫度波動均勻度: ±2℃

溫度顯示精度：0.1℃

壓力波動均勻度 : ±0.1Kg

濕度分布均度：±3%RH
內(nèi)尺寸:Φ380mmxL500mm，大于50L
內(nèi)桶材質(zhì): SUS# 316不銹鋼板材質(zhì)
外箱材質(zhì): 冷軋板噴塑