SEM掃描電鏡，臺(tái)式掃 描電子顯微鏡簡介
    掃描電子顯微鏡利用細(xì)聚焦電子束在樣品表面逐點(diǎn)掃描，與樣品相互作用產(chǎn)行各種物理信號(hào)，這些信號(hào)經(jīng)檢測器接收、放大并轉(zhuǎn)換成調(diào)制信號(hào)，最后在熒光屏上顯示反映樣品表面 各種特征的圖像。掃描電鏡具有景深大、圖像立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍大、連續(xù)可調(diào)、分辨 率高、樣品室空間大且樣品制備簡單等特點(diǎn)，是進(jìn)行樣品表面研究的有效分析工具。
    目前, 掃描電子顯微鏡已被廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)（主要用來觀察生物體，微生物，組織器官等）、物理學(xué)、化學(xué)、電子（在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)材料、太陽能電池、LED、元器件、PCB板及MEMS器件等的形態(tài)或缺陷）、地球科學(xué)、材料學(xué)（在材料研究、地質(zhì)、半導(dǎo)體和微電子、汽車、航空航天等相關(guān)行業(yè)的研究和生產(chǎn)中，掃描電鏡發(fā)揮著巨大的作用）以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究, 僅在地球科學(xué)方面就包括了結(jié)晶學(xué)、礦物學(xué)、礦床學(xué)、沉積學(xué)、地球化學(xué)、寶石學(xué)、微體古生物、天文地質(zhì)、油氣地質(zhì)、工程地質(zhì)和構(gòu)造地質(zhì)等。 
SEM掃描電鏡，臺(tái)式掃 描電子顯微鏡技術(shù)參數(shù)：
放大倍數(shù)：60000x /150000x
加速電壓：500V - 15kV
電子源:預(yù)對中鎢燈絲
聚光鏡:兩級(jí)電磁變焦聚光鏡
樣品臺(tái):X-Y兩軸自動(dòng)樣品臺(tái)
樣品臺(tái)移動(dòng)范圍:30mm×30mm
標(biāo)準(zhǔn)配置：
背散射電子探測器
二次電極探測器
CCD光學(xué)導(dǎo)航
SEM掃描電鏡，臺(tái)式掃描電子顯微鏡的特點(diǎn)：
1.操作便捷：只需鼠標(biāo)就可完成所有操作，不需對中光闌等復(fù)雜步驟，聚焦消像散后可直接拍圖。
2.快速成像：掃描速度快，信號(hào)采集帶寬10M，可以在視頻模式下流暢實(shí)時(shí)的顯示樣品。
3.性能穩(wěn)定：一體式機(jī)身設(shè)計(jì)，非前后或上下連體，增強(qiáng)電鏡穩(wěn)定性，降低故障率。
4.節(jié)約空間：主機(jī)集成高壓及控制系統(tǒng)，體積小巧，便于移動(dòng)。
5.便于安裝：安裝無需特殊環(huán)境，只需找一張桌子，供電就可工作。